除了添加体探测器物体,我们还将打开所有光学和光机元件的 物体作为探测器(Object is A Detector) 选项。这将帮助我们记录这些物体表面吸收的照度。可以将任意形状的大多数物体用作探测器来记录非相干照度数据。这包括具有平面的物体,例如多边形、STL 和矩形体物体。该选项可以在物体属性……类型……探测器部分下启用。选中该选项后,用于绘制物体的每个单独的三角面可以变成单个像素,像素的数量与该物体的绘图分辨率相关。探测到的辐照度既可以在实体模型中直观地显示,也可以在探测器查看器的文本选项卡中显示为文本列表。
我们在NSCE中突出显示第 2-6 行,打开物体属性……类型(Object Properties…Type)并勾选物体作为探测器( 'Object Is A Detector')选项。在绘图(Draw)选项卡下,将绘制分辨率调整为高,这将增加用于渲染该物体的像素数/网格密度。
定义光学表面的膜层
在非序列模式下测量的吸收通量同时考虑了由膜层引起的表面吸收和镜头材料的体吸收。透射元件具有抗反射膜层,反射镜具有高反射膜层。我们在本例中使用了简单的 IDEAL 膜层,格式为 IDEAL <name> T R TIR。语法中的三个强度系数分别表示透射 T、反射 R和全内反射 TIR。吸收系数通过 A = 1.0 - R - T 自动计算,以表示能量吸收效率。如果省略了 TIR 值,则假定其值为 1.0。我们在膜层文件中添加了以下两种 IDEAL 膜层,以备后续使用。可以通过点击库……膜层工具……编辑膜层文件(Libraries…Coating Tools…Edit Coating File)来完成编辑。我们将编辑好的膜层文件保存为“COATING_LASER.DAT”。